EMI-NF-PROBE近場探頭

EMI-NF-PROBE近場探頭

 Tektronix  近場探頭

EMI-NF-探頭為TEKBOX TBPS01。這套磁場和電場探頭用于輻射發射EMC預符合性測量。探針用于近場電磁輻射源，用于定位和識別電子組件構件內的潛在干擾源。這種探測器的作用類似于寬頻帶天線，從元件、PCB軌跡、外殼開口或縫隙以及任何其他可能發射射頻的部件中接收輻射發射。

超薄設計，便于在緊密間隔的組件之間進行良好的訪問

屏蔽回路，避免拾取共模噪聲；對人手不敏感

頻率范圍高達6 GHz

用橡膠涂層絕緣

探針通常連接到頻譜分析儀

EMI近場探頭是主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能

產品性能：

EMI近場探頭適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現在以及未來的測量需求。

產品特點：

覆蓋有絕緣層的安全措施；

非常方便的設計包括涂橡膠握把；

非常小的尺寸，完善的干擾源定位；

可以由一個信號源驅動產生的電磁敏感性測試領域；

內容

EMC探頭組由H20、H10、H5、E5、75 cm SMB至SMA電纜、測量圖組成